Conectores de backplane de alta velocidade

A TE Connectivity oferece o melhor desempenho dos conectores, aplicando a experiência de design de integridade de sinal em nível de sistema a cada produto de alta velocidade. Nossas habilidades de modelagem e simulação são inigualáveis com experiência global nos EUA, Europa e Ásia. Nossa presença global coloca especialistas em simulação, modelagem e layout de sistemas ao lado do cliente.

Na TE, o processo de design começa com a integridade de sinal. Os engenheiros de integridade de sinal usam ferramentas 3D sofisticadas para fornecer conector e área ocupada precisos através do desempenho do padrão antes da produção. Temos as ferramentas e a experiência para obter a resposta certa.

• Ferramentas 3D de onda completa Ansys HFSS e CST Microwave Studio
• Conector e área ocupada através de padrões analisados antes da produção
• Análise de parâmetro S e SPICE
• Análise sofisticada do sistema ADS e MATLAB

Com capacidades de medição além de 12,5 Gbps e 50 GHz, a TE pode caracterizar e fornecer medições detalhadas para seus produtos. Técnicas avançadas de calibração de medição e design da placa permitem a remoção precisa de luminárias de teste. A TE também se uniu a inúmeras empresas de silício para fornecer medições ativas de dispositivos que podem ser inestimáveis para garantir a implementação bem-sucedida de um design.

• Técnicas avançadas de calibração permitem remover a luminária
• Domínio de frequência a 50 GHz
• Padrão de olho no domínio do tempo/BERT para 12,5 Gbps
• Teste ativo de silício – vários fornecedores 2 – 10+ Gbps
• Placas de sistema e placas "somente para conectores"

Desde placas de teste até modelos de simulação, a TE fornece uma biblioteca de ferramentas que ajudam você a implementar seu sistema com sucesso.

Solicite modelos elétricos

• Ferramentas 3D de onda completa Ansys HFSS e CST Microwave Studio
• Conector e área ocupada através de padrões analisados antes da produção
• Análise de parâmetro S e SPICE
• Análise sofisticada do sistema ADS e MATLAB
• Modelos de conectores de parâmetro S baseados em medição (mais de 64 portas)
• Modelos de conectores de parâmetro S baseados em modelagem (mais de 64 portas)
• Área ocupada através de modelos do padrão de parâmetro S e SPICE
• Modelos de conectores SPICE
• Placas de teste de avaliação do conector
• Placas de teste do sistema